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    從輻射源強(qiáng)度功率角度考慮，對(duì)于零部件和整車(chē)來(lái)說(shuō)，能夠耐受外界干擾電磁環(huán)境更為重要。這就需要我們?cè)谠囼?yàn)環(huán)境下創(chuàng)造一個(gè)接近真實(shí)情況的干擾電磁場(chǎng)，RI輻射抗測(cè)試自由空間天線(xiàn)發(fā)就是典型的一種方法。  

當(dāng)然還有很多其它測(cè)試方法，如BCI，射頻大電流注入法，其主要是為了在頻率較低的頻段更地將干擾至被干擾樣品系統(tǒng)線(xiàn)束中，因?yàn)樵诘皖l段主要可比擬的波長(zhǎng)電尺寸是線(xiàn)束，如使用RI天線(xiàn)法，則功放設(shè)備功率極大，天線(xiàn)尺寸和場(chǎng)地可實(shí)現(xiàn)經(jīng)濟(jì)性遠(yuǎn)不及BCI法合算。  

    此外，TEM小室，帶狀線(xiàn)，直接射頻注入等也是等效被采用的電磁輻射抗擾度方法。  

    傳統(tǒng)車(chē)輛電子部件系統(tǒng)通常不大，所以測(cè)試場(chǎng)地要求不像整車(chē)需要有尾氣排放和轉(zhuǎn)鼓。一般3米法的暗室即可滿(mǎn)足零部件輻射抗擾天線(xiàn)法的場(chǎng)地需求。  

    我們的半電波暗室可以進(jìn)行1米法零部件輻射抗擾度測(cè)試，包括主反射區(qū)在內(nèi)的5面滿(mǎn)鋪鐵氧體和尖劈有效避免多路徑反射疊加造成測(cè)試結(jié)果偏差。